石灰石—二氧化硅量的测定—钼蓝分光光度法

整理时间:2012-11-07   热度:1106

1           范围

本方法适用于石灰石中质量分数为0.05%~5%的二氧化硅量的测定。

2           原理

试料经碳酸钠—硼酸混合溶融,稀盐酸浸取。在pH约1.1的酸度下,钼酸铵与硅酸形成硅钼杂多酸,以乙醇作稳定剂,在草酸-硫酸介质中用硫酸亚铁铵将其还原成硅钼蓝,于分光光度计波长680nm处测量吸光度。

3           试剂

3.1           混合熔剂

取2份无水碳酸钠与1份硼酸研细,混匀。

3.2           盐酸,1+6。

3.3           盐酸,1+29。

3.4           乙醇,95+5。

3.5           钼酸铵溶液,60g/L

称取6g硫酸亚铁铵溶于50mL热水中,冷却,用水稀释至100mL,过滤后贮于塑料瓶中。

3.6           草酸-硫酸混合溶液

称取3g草酸溶于100mL硫酸(1+9)溶液中。

3.7           硫酸亚铁铵溶液,60g/L

称取6g硫酸亚铁铵溶于50mL水中,加5~6滴硫酸,用水稀释至100mL,过滤后使用(使用期为一周)。

3.8           二氧化硅标准溶液,200μg/mL

称取0.2000g已于950~1000℃灼烧30min并置于干燥器中冷却至室温的二氧化硅(高纯试剂)于铂坩埚中,加3g混合熔剂,混匀,再覆盖1g混合熔剂。盖上坩埚盖并留一缝隙,置于高温炉中于950℃熔融20min,取出,冷却。将坩埚置于盛用100mL热水的聚四氟乙烯塑料烧杯中,加热浸取熔块,至溶液清亮。用热水洗出坩埚及盖,冷却至室温,将溶液移入1000mL容量瓶中,用水稀释至刻度,摇匀,贮存于塑料瓶中。

3.9           二氧化硅标准溶液,20μg/mL

吸取50.00mL200μg/mL二氧化硅标准溶液置于500mL容量瓶中,用水稀释至刻度,摇匀,贮存于塑料瓶中。

4           仪器设备

分光光度计。

5           试样

实验室样品通过125μg试验筛,于105~110℃干燥2h以上,置于干燥器中冷却至室温。

6           操作步骤

6.1         称样

按表1的规定称取试样,精确至0.0001g,置于铂坩埚中。同时做空白试验。

表1

二氧化硅的质量分数

w /%

称取试样量

m/g

加入盐酸溶液(1+6)体积

V/mL

稀释用容量瓶体积

V/mL

吸收皿厚度

L/cm

0.05~0.25

0.4

55

100

3

>0.25~1.0

0.2

55

100

2

>1.0~5.0

0.1

100

250

2

6.2         空白试验

随同试料的操作步骤做空白试验。

6.3         试料处理

加入2~3g混合熔剂,混匀,再覆盖1g混合熔剂.盖上坩埚盖并留一缝隙,置于高温炉中从低温升至950℃,保持10min,取出,冷却。将坩埚置于聚四氟乙烯塑料烧杯中,按表1的规定量加入盐酸 (1+6),盖上表面皿,低温加热浸出熔融物,用水洗出坩埚及盖,继续加热至溶液清亮,冷却至定温,按表1规定,移入相应的容量瓶中,用水稀释至刻度,摇匀。

6.4

4         发色

吸取10.00mL试液置于100mL容量瓶中,加10.0mL乙醇(95+5),补加水至40mL。加5.0mL60g/L钼酸按溶液摇匀,放置10min。加入20.0mL草酸-硫酸混合溶液,摇匀,放置5min。加入5.0mL60g/L硫酸亚铁铵溶液(60g/L),用水稀释至刻度,摇匀。

6.5         比色

按表1的规定选用相应的吸收皿.在分光光度计波长680nm,以空白试验溶液作参比,测量吸光度。

6.6         工作曲线的绘制

吸取0.00、1.00、2.50、5.00、7.50、10.00mL 20μg/mL二氧化硅标准溶液分别置于一组预先盛有10.0mL盐酸(1+29)的100mL容量瓶中,加10.0mL乙醇(95+5),补加水至40mL。以下按发色步骤进行,然后以试剂空白作参比,测量吸光度。以二氧化硅量为横坐标,相应的吸光度为纵坐标,绘制工作曲线。

7           结果计算

按下式计算二氧化硅的含量,以质量分数表示:

式中: —二氧化硅的质量分数,%;

c—从工作工线上查得的二氧化硅量,μg;

V—试料溶液的总体积,mL;

V1—吸取试料溶液的体积,mL;

m—试料的质量,g。

8           允许差(引自GB 15057.5-94)

两个测定值之间的差值应不大于表2所列允许差。

                      表2                %

二氧化硅的质量分数

允许差

0.05~0.25

0.02

>0.25~1.00

0.05

>1.00~5.00

0.15

9           参考文献

[1] GB/T 15057.5-94

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