锆-铪含量的测定-原子发射光谱法

整理时间:2012-11-07   热度:786

1         范围

本方法适用于锆中铪含量的测定。

本方法适用于锆中质量分数为0.005%—5%的铪含量的测定。

2         原理

碳粉缓冲法,为了降低电弧温度更适合Hf的激发,在碳粉中加入6%NaF

试剂

3.1 硝酸,1+1,优级纯

3.2 碳粉,光谱纯

3.3 氢氟酸,ρ约1.13g/mL,优级纯

3.4 氟化钠,优级纯

仪器

4.1 PGS-2平面光栅摄谱仪

4.2 硅整流器

4.3 映谱仪

4.4 测微光度计

分析步骤

5.1 试样清洗

取约1.0g试样置于30mL铂坩埚中,加入10mL硝酸(1+1)清洗表面,弃去清洗用的硝酸。

5.2试样溶解

在上述铂坩埚中加入5mL硝酸(1+1),5~10滴氢氟酸,低温加热溶解,待大部分试样溶解后,提高温度使试样溶解完全,加热蒸干后,置于马弗炉中850℃灼烧成氧化物。

5.3装电极

将处理成氧化物的试样与6%的NaF的碳粉缓冲剂2:1混合并磨匀,装入Φ3mm×2mm的石墨电极中;

5.3 射谱

在PGS-2平面光栅摄谱仪上摄谱,中间波段290.0nm,三透镜照明,中间光栅3.2mm,入射狭缝12μ;用9×24cm紫外板、直流电弧阳极激发,用15A曝光40s。

5.5 暗室处理

摄谱结束后按标准化暗室处理方法,将感光板进行显影和定影;

5.6 测量

利用光谱投影仪和测微光度计测量分析线对的黑度值;

分析元素

分析线及内标线(nm)

测定范围(%)

Hf

264.1/264.5

0.005-5.0%

于工作曲线上查出铪的含量。

5.7 工作曲线的绘制

按1:2的比例将6%的NaF的碳粉缓冲剂与氧化锆标准样品混匀,并装入Φ3mm×2mm的石墨电极中,与试料同样条件进行射谱、暗室处理及测量,以LogC为横坐标,以△S为纵坐标绘制工作曲线。

结果计算

自工作曲线上查出氧化锆中铪的含量,换算成锆中铪的含量,以质量分数表示。

允许差

同一实验室两次测量结果的相对标准偏差:RSD<10%。

参考文献

[1] 王长华,钱伯仁等.《分析测试新技术新方法研究报告汇编》2002年

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